近红外荧光寿命测试仪
近红外荧光寿命测试仪
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Lifetime）而设计的。 适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。主要应用于发光材料的研究
产品型号：
C12132-36
C12132-37
C12132-38
产品概述：
紧凑型近红外光致发光寿命测量仪C12132系列是专门为测量近红外波段的光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Lifetime）而设计的。 适用于测量与太阳能电池转换效率、有机化合物光致发光寿命和单线态氧光致发光谱有关的材料的光致发光寿命和光致发光谱。主要应用于发光材料的研究，测量光伏材料的光致发光（PL）寿命。
C12132-36符合激光类1，可以在激光控制区外使用。
C12132-37符合激光类3B，可以用光纤升级为多点测量。
C12132-38使用外部激光器作为激发光源。可以选择添加PLP-10激光头作为激发光源。
技术参数：
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型号 |
C12132-36 |
C12132-37 |
C12132-38 |
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激发波长 |
532 nm |
532 nm |
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输出功率 |
30 mW |
30 mW |
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脉冲宽度 |
<1.0 ns |
<1.0 ns |
* |
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重复率 |
15 kHz |
15 kHz |
* |
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激发光强调整功能 |
Automatic control by software |
Automatic control by software |
* |
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灵敏波长范围 |
380 nm to 1650 nm (as detector alone) |
380 nm to 1650 nm (as detector alone) |
380 nm to 1650 nm (as detector alone) |
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测量波长范围 |
580 nm to 1650 nm (with YAG laser 532 nm) |
580 nm to 1650 nm (with YAG laser 532 nm) |
380 nm to 1650 nm |
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时间分辨率 |
< 1.0 ns FWHM |
< 1.0 ns FWHM |
* |
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测量时间范围 |
4 ns to 10 s （with YAG LASER 532 nm 4 ns to 50 μs） |
4 ns to 10 s （with YAG LASER 532 nm 4 ns to 50 μs） |
4 ns to 10 s （with YAG LASER 532 nm 4 ns to 50 μs） |
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时间轴通道数 |
1024 ch |
512 ch，1024 ch，2048 ch，4096 ch |
512 ch，1024 ch，2048 ch，4096 ch |
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总时间分辨率 |
< 1.0 ns FWHM (as FWHM of IRF with YAG LASER 532 nm) |
< 1.0 ns FWHM (as FWHM of IRF with YAG LASER 532 nm) |
< 1.0 ns FWHM (as FWHM of IRF with YAG LASER 532 nm) |
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操作系统 |
Windows 7 (32 bit)，(64 bit) Windows 10 (64 bit) |
Windows 7 (32 bit)，(64 bit) Windows 10 (64 bit) |
Windows 7 (32 bit)，(64 bit) Windows 10 (64 bit) |
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环境工作温度 |
+10 °C to +30 °C |
+10 °C to +30 °C |
+10 °C to +30 °C |
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环境工作湿度 |
30 % to 80 % (with no condensation) |
30 % to 80 % (with no condensation) |
30 % to 80 % (with no condensation) |
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环境存储温度 |
-10 °C to +50 °C |
-10 °C to +50 °C |
-10 °C to +50 °C |